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半導體器件建模與測試實驗教程――基于華大九天器件建模與驗證平臺XMODEL 版權信息
- ISBN：9787121493713
- 條形碼：9787121493713 ; 978-7-121-49371-3
- 裝幀：平塑
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>
半導體器件建模與測試實驗教程――基于華大九天器件建模與驗證平臺XMODEL 內容簡介
本書基于國產EDA軟件Empyrean Xmodel器件模型提取工具，系統、全面地介紹硅基MOSFET和GaN HEMT的器件建模、測試分析和參數提取的設計和實驗全流程。本書在簡要介紹半導體器件的基本理論、測試結構和測試方案的基礎上，詳細闡述MOSFET BSIM模型和參數提取實驗、Xmodel集成的數據圖形化顯示系統、MOSFET器件直流模型和射頻模型的提取實驗、基于ASM-HEMT模型的GaN功率器件和射頻器件的模型參數提取實驗等，以及半導體器件中常見的各種二階效應（如短溝道效應、版圖鄰近效應、工藝角模型和溫度特性等）非線性模型參數的提取和驗證方法。本書力求做到理論與實踐相結合，可作為高校半導體相關專業高年級本科生和研究生的教材，也可供從事半導體器件研發的工程師參考。
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