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半導體物理與器件實驗教程 版權信息
- ISBN：9787560769523
- 條形碼：9787560769523 ; 978-7-5607-6952-3
- 裝幀：一般膠版紙
- 冊數：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
半導體物理與器件實驗教程 內容簡介
本書主要分為半導體物理實驗及半導體器件實驗兩部分。半導體物理實驗包括單晶硅材料的激光定向、單晶硅中晶體缺陷的腐蝕顯示、半導體材料導電類型測定、四探針法測試半導體電阻率、霍爾效應實驗、高頻光電導法測少子壽命、半導體材料光學特性的測量、MOS 結構 C-V 特性測量、PN 結勢壘特性及雜質的測試分析、PN 結正向特性的研究和應用等十個實驗。半導體器件實驗包括二極管特性參數測量、穩壓二極管特性測量、雙極型晶體管直流參數測量、場效應管直流參數測量、晶體管基極電阻測量、晶體管特征頻率測量、數字電橋測量電位器的電阻值、集成電路特性測量、太陽能電池測量等十個實驗。
半導體物理與器件實驗教程 目錄
上篇 半導體物理實驗
實驗一 單晶硅的激光定向
實驗二 單晶硅中晶體缺陷的腐蝕顯示
實驗三 半導體材料導電類型的測定
實驗四 四探針法測量半導體電阻率
實驗五 霍爾效應實驗
實驗六 高頻光電導衰減法測少子壽命
實驗七 半導體材料光學特性的測量
實驗八 MOS管的C-V特性測量
實驗九 PN結勢壘特性及雜質的測試分析
實驗十 PN結正向特性的研究和應用
下篇 半導體器件實驗
實驗十一 發光二極管特性參數測量
實驗十二 穩壓二極管特性參數測量
實驗十三 雙極型晶體管直流參數測量(1)
實驗十四 雙極型晶體管直流參數測量(2)
實驗十五 場效應管直流參數測量
實驗十六 晶體管基極電阻的測量
實驗十七 晶體管特征頻率的測量
實驗十八 數字電橋測量電位器的電阻值
實驗十九 集成電路特性參數測量
實驗二十 太陽能電池參數測量
參考文獻
附錄一 Excel中自動擬合曲線的方法
附錄二 YB4811型半導體管特性圖示儀使用說明
附錄三 YB2811LCR數字電橋簡介
展開全部
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