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納米表征與調(diào)控研究進(jìn)展/高瞻系列/中外物理學(xué)精品書系

包郵 納米表征與調(diào)控研究進(jìn)展/高瞻系列/中外物理學(xué)精品書系

作者:王榮明
出版社:北京大學(xué)出版社出版時間:2017-05-01
開本: 16開 頁數(shù): 665
中 圖 價:¥185.0(7.4折) 定價  ¥250.0 登錄后可看到會員價
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納米表征與調(diào)控研究進(jìn)展/高瞻系列/中外物理學(xué)精品書系 版權(quán)信息

納米表征與調(diào)控研究進(jìn)展/高瞻系列/中外物理學(xué)精品書系 本書特色

本書為中外物理學(xué)精品書系中高瞻系列里的一部。是由著名物理學(xué)家用英文編寫的專著。主要內(nèi)容是介紹近些年我國在納米結(jié)構(gòu)表征及其調(diào)控研究的新成果。

納米表征與調(diào)控研究進(jìn)展/高瞻系列/中外物理學(xué)精品書系 內(nèi)容簡介

物質(zhì)在納米尺度下表現(xiàn)出的奇異現(xiàn)象和規(guī)律將改變相關(guān)理論的現(xiàn)有框架,使人們對物質(zhì)世界的認(rèn)識進(jìn)入到嶄新的階段。在微/納米尺度對樣品進(jìn)行測量、操控、加工,成為分析和構(gòu)建新的納米材料、結(jié)構(gòu)和器件不可或缺的途徑。在微、納米尺度上利用“自下而上(bottom-up)”和“自上而下(top-down)”的微納加工方法對微納米材料、器件等進(jìn)行微結(jié)構(gòu)表征、操縱、控制、加工等,測量其力、熱、光、電、磁等低維物理特性,開展相關(guān)基礎(chǔ)理論、方法研究和設(shè)備改造、研制,對納米科技的發(fā)展具有重要的意義。 本書上冊主要包括掃描電子顯微學(xué)、透射電子顯微學(xué)、聚焦離子束和電子束納米加工技術(shù)、氦離子顯微學(xué)等的基礎(chǔ)理論,通過一些典型的應(yīng)用介紹如何運(yùn)用這些方法實(shí)施對材料及其結(jié)構(gòu)的表征、加工等。

納米表征與調(diào)控研究進(jìn)展/高瞻系列/中外物理學(xué)精品書系 目錄

1 Electron/Ion Optics
1.1 General ray diagram of TEM
1.2 Electron sources
1.3 Optics
1.4 Detectors
1.5 Ion optics
2 Scanning Electron Microscopy
2.1 Introduction
2.2 Fundamentals of the SEM
2.3 Analytical capabilities of the SEM
3 Transmission Electron Microscopy
3.1 Introduction
3.2 High-resolution transmission electron microscopy imaging
3.3 A new approach to image analysis in HRTEM
3.4 Focal series reconstruction
3.5 Convergent beam electron di raction
3.6 Lorentz electron microscopy
3.7 Electron holography
4 Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)
4.1 Introduction
4.2 The Principle of reciprocity
4.3 Principle of STEM imaging
4.4 HAADF imaging
4.5 ABF imaging
4.6 Scanning Moir e fringe imaging
4.7 Application on micro-area analysis
4.8 Discussion and conclusion
5 Spectroscopy
5.1 Introduction
5.2 Principle of EDS and EELS
5.3 EDS+TEM and EDS+STEM
5.4 EELS-TEM
5.5 EELS-STEM and applications
5.6 Spectrum imaging
6 Aberration Corrected Transmission Electron Microscopy and Its
Applications
6.1 Basics of aberration correction
6.2 Aberration corrected electron microscopy
6.3 Applications of aberration corrected electron microscopy
7 In Situ TEM: Theory and Applications
7.1 In situ TEM observation of deformation-induced structural evolution
at atomic resolution for strained materials
7.2 In situ TEM investigations on Ga/In ˉlled nanotubes
7.3 In situ TEM electrical measurements
7.4 Several advanced electron microscopy methods and their
applications on materials science
8 Helium Ion Microscopy
8.1 Introduction
8.2 Principles¢
8.3 Imaging techniques
8.4 Applications
8.5 Current/Future developments
8.6 Conclusion
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納米表征與調(diào)控研究進(jìn)展/高瞻系列/中外物理學(xué)精品書系 作者簡介

王榮明,北京科技大學(xué)教授,數(shù)理學(xué)院院長 。中國材料研究學(xué)會青年委員會第四屆理事會理事,中國金屬學(xué)會材料科學(xué)分會第五屆理事會理事,中國航空學(xué)會第六屆材料工程專業(yè)分會委員。

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