第1章 緒論 1.1 背景與意義 1.2 本書內(nèi)容與章節(jié)安排 第2章 單細(xì)胞力學(xué)與電學(xué)特性常規(guī)檢測(cè)技術(shù) 2.1 單細(xì)胞操縱 2.1.1 直接接觸式操縱 2.1.2 非直接觸式操縱 2.2 常規(guī)單細(xì)胞力學(xué)特性檢測(cè)技術(shù) 2.2.1 原子力顯微鏡技術(shù) 2.2.2 微吸管技術(shù) 2.2.3 光鑷技術(shù) 2.3 常規(guī)的單細(xì)胞電學(xué)特性檢測(cè)技術(shù) 2.3.1 膜片鉗技術(shù) 2.3.2 電旋轉(zhuǎn)技術(shù) 2.3.3 介電泳技術(shù) 2.4 本章小結(jié) 第3章 微流控技術(shù) 3.1 微流控技術(shù)概述 3.2 微流控芯片常用材料 3.3 微流控芯片中的硅與硅酸鹽類基片的制備工藝 3.3 .I 光刻 3.3.2 刻蝕方法及特性 3.3.3 去膠方法 3.3.4 薄膜與薄膜淀積 3.3.5 光刻掩膜版 3.3.6 硅、玻璃和石英芯片的打孔方法 3.3.7 硅、玻璃和石英芯片的鍵合流程 3.4 微流控芯片中的高分子聚合物的制備工藝 3.4.1 高分子聚合物內(nèi)微結(jié)構(gòu)構(gòu)建 3.4.2 高分子聚合物芯片的打孑L方法 3.4.3 高分子聚合物芯片的鍵合流程 3.5 本章小結(jié) 第4章 連續(xù)式微吸管用于腫瘤單細(xì)胞力學(xué)特性檢測(cè) 4.1 原理與方法 4.2 單細(xì)胞黏度檢測(cè)的力學(xué)模型 4.3 實(shí)驗(yàn)關(guān)鍵參數(shù)與數(shù)據(jù)處理方法 4.4 連續(xù)式微吸管用于細(xì)胞質(zhì)黏度檢測(cè)的方法實(shí)現(xiàn) 4.4.1 材料與設(shè)備 4.4.2 微吸管實(shí)驗(yàn)關(guān)鍵參數(shù) 4.4.3 細(xì)胞處理 4.4.4 細(xì)胞質(zhì)黏度測(cè)量與數(shù)據(jù)處理 4.5 結(jié)果與分析 4.6 本章小結(jié) 第5章 “一字形”壓縮微流控通道用于細(xì)胞核力學(xué)特性檢測(cè) 5.1 原理與方法 5.2 壓縮通道關(guān)鍵尺寸 5.3 實(shí)驗(yàn)關(guān)鍵參數(shù) 5.4 “一字形”壓縮通道用于細(xì)胞核力學(xué)特性檢測(cè)的方法實(shí)現(xiàn) 5.4.1 方法概述 5.4.2 材料與設(shè)備