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材料科學(xué)研究與測(cè)試方法實(shí)驗(yàn)教程 版權(quán)信息
- ISBN：9787564184865
- 條形碼：9787564184865 ; 978-7-5641-8486-5
- 裝幀：平裝-膠訂
- 冊(cè)數(shù)：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
材料科學(xué)研究與測(cè)試方法實(shí)驗(yàn)教程 本書特色
《材料科學(xué)研究與測(cè)試方法實(shí)驗(yàn)教程》是材料專業(yè)核心課程“材料研究方法”的實(shí)驗(yàn)教材，即為教材《材料科學(xué)研究與測(cè)試方法》的配套實(shí)驗(yàn)教材。《材料科學(xué)研究與測(cè)試方法》是普通高等教育“十一五”國家規(guī)劃教材、“十二五”和“十三五”江蘇省高等學(xué)校重點(diǎn)教材、2015兵工高校優(yōu)秀教材和中國MOOC網(wǎng)國家精品課程《材料研究方法》的選用教材。為使讀者更好地理解和掌握該實(shí)驗(yàn)教材的核心內(nèi)容，《材料科學(xué)研究與測(cè)試方法實(shí)驗(yàn)教程》共設(shè)計(jì)了34個(gè)實(shí)驗(yàn)，主要分布在X射線衍射和電子衍射，及表面分析技術(shù)、熱分析技術(shù)和光譜分析技術(shù)等方面，每一實(shí)驗(yàn)包括實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?shí)驗(yàn)內(nèi)容、實(shí)驗(yàn)原理、實(shí)驗(yàn)儀器設(shè)備與材料、實(shí)驗(yàn)方法和步驟、實(shí)驗(yàn)報(bào)告要求、實(shí)驗(yàn)注意事項(xiàng)、實(shí)驗(yàn)思考題等8個(gè)方面，通過本課程的學(xué)習(xí)，可使學(xué)生掌握各種現(xiàn)代分析方法的基本原理、實(shí)驗(yàn)方法與步驟，鍛煉和提高學(xué)生理論分析和實(shí)踐動(dòng)手的能力。
材料科學(xué)研究與測(cè)試方法實(shí)驗(yàn)教程 內(nèi)容簡(jiǎn)介
本書共設(shè)計(jì)了34個(gè)實(shí)驗(yàn), 主要分布在X射線衍射和電子衍射, 及表面分析技術(shù)、熱分析技術(shù)和光譜分析技術(shù)等方面, 每個(gè)實(shí)驗(yàn)包括實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?nèi)容、原理、設(shè)備與材料、方法和步驟, *后實(shí)驗(yàn)報(bào)告要求、注意事項(xiàng)、思考題8個(gè)方面, 通過本課程的學(xué)習(xí), 可使學(xué)生掌握各種現(xiàn)代分析方法的基本原理、實(shí)驗(yàn)方法與步驟, 鍛煉和提高學(xué)生理論分析和都手實(shí)踐的能力。
材料科學(xué)研究與測(cè)試方法實(shí)驗(yàn)教程 目錄
實(shí)驗(yàn)1 X射線衍射物相定性分析
實(shí)驗(yàn)2 X射線衍射物相定量分析
實(shí)驗(yàn)3 X射線衍射織構(gòu)測(cè)定
實(shí)驗(yàn)4 宏觀殘余應(yīng)力的x射線衍射測(cè)量
實(shí)驗(yàn)5 X射線衍射淬火鋼中殘余奧氏體測(cè)定
實(shí)驗(yàn)6 X射線衍射晶粒尺寸測(cè)定
實(shí)驗(yàn)7 X射線衍射涂層厚度測(cè)量
實(shí)驗(yàn)8 X射線衍射結(jié)晶度測(cè)定
實(shí)驗(yàn)9 X射線衍射晶格常數(shù)測(cè)定
實(shí)驗(yàn)10 薄膜物相的X射線掠入射法分析
實(shí)驗(yàn)11 透射電子顯微鏡的試樣制備
實(shí)驗(yàn)12 透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)及成像
實(shí)驗(yàn)13 選區(qū)電子衍射分析
實(shí)驗(yàn)14 掃描電鏡顯微分析
實(shí)驗(yàn)15 電子探針分析
實(shí)驗(yàn)16 掃描透射電子顯微鏡形貌分析
實(shí)驗(yàn)17 熱分析
實(shí)驗(yàn)18 原子力顯微鏡形貌分析
實(shí)驗(yàn)19 X射線光電子能譜分析
實(shí)驗(yàn)20 俄歇電子能譜定性分析
實(shí)驗(yàn)21 俄歇電子能譜定量分析
實(shí)驗(yàn)22 掃描隧道顯微鏡的表面形貌分析
實(shí)驗(yàn)23 Au（111）表面的掃描隧道顯微鏡成像
實(shí)驗(yàn)24 X射線熒光光譜定性分析
實(shí)驗(yàn)25 X射線熒光光譜定量分析
實(shí)驗(yàn)26 氦離子顯微鏡形貌分析
實(shí)驗(yàn)27 聚焦離子束微納刻蝕
實(shí)驗(yàn)28 電子背散射衍射晶粒取向分析
實(shí)驗(yàn)29 電子背散射衍射織構(gòu)分析
實(shí)驗(yàn)30 紅外光譜分析
實(shí)驗(yàn)31 拉曼光譜分析
實(shí)驗(yàn)32 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析
實(shí)驗(yàn)33 原子探針的試樣制備
實(shí)驗(yàn)34 原子探針顯微分析
參考文獻(xiàn)
實(shí)驗(yàn)2 X射線衍射物相定量分析
實(shí)驗(yàn)3 X射線衍射織構(gòu)測(cè)定
實(shí)驗(yàn)4 宏觀殘余應(yīng)力的x射線衍射測(cè)量
實(shí)驗(yàn)5 X射線衍射淬火鋼中殘余奧氏體測(cè)定
實(shí)驗(yàn)6 X射線衍射晶粒尺寸測(cè)定
實(shí)驗(yàn)7 X射線衍射涂層厚度測(cè)量
實(shí)驗(yàn)8 X射線衍射結(jié)晶度測(cè)定
實(shí)驗(yàn)9 X射線衍射晶格常數(shù)測(cè)定
實(shí)驗(yàn)10 薄膜物相的X射線掠入射法分析
實(shí)驗(yàn)11 透射電子顯微鏡的試樣制備
實(shí)驗(yàn)12 透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)及成像
實(shí)驗(yàn)13 選區(qū)電子衍射分析
實(shí)驗(yàn)14 掃描電鏡顯微分析
實(shí)驗(yàn)15 電子探針分析
實(shí)驗(yàn)16 掃描透射電子顯微鏡形貌分析
實(shí)驗(yàn)17 熱分析
實(shí)驗(yàn)18 原子力顯微鏡形貌分析
實(shí)驗(yàn)19 X射線光電子能譜分析
實(shí)驗(yàn)20 俄歇電子能譜定性分析
實(shí)驗(yàn)21 俄歇電子能譜定量分析
實(shí)驗(yàn)22 掃描隧道顯微鏡的表面形貌分析
實(shí)驗(yàn)23 Au（111）表面的掃描隧道顯微鏡成像
實(shí)驗(yàn)24 X射線熒光光譜定性分析
實(shí)驗(yàn)25 X射線熒光光譜定量分析
實(shí)驗(yàn)26 氦離子顯微鏡形貌分析
實(shí)驗(yàn)27 聚焦離子束微納刻蝕
實(shí)驗(yàn)28 電子背散射衍射晶粒取向分析
實(shí)驗(yàn)29 電子背散射衍射織構(gòu)分析
實(shí)驗(yàn)30 紅外光譜分析
實(shí)驗(yàn)31 拉曼光譜分析
實(shí)驗(yàn)32 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析
實(shí)驗(yàn)33 原子探針的試樣制備
實(shí)驗(yàn)34 原子探針顯微分析
參考文獻(xiàn)
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