納米力學(xué)測(cè)試新方法-掃描探針聲學(xué)顯微術(shù) 本書特色

本書從AFAM的力學(xué)基礎(chǔ)－接觸力學(xué)出發(fā)，闡述了AFAM的原理和基礎(chǔ)、準(zhǔn)確度和靈敏度、粘彈性成像，以及AFAM的廣泛應(yīng)用。此外，還對(duì)正在興起的多頻原子力顯微術(shù)進(jìn)行了介紹。本書的內(nèi)容安排如下：*章緒論簡(jiǎn)要介紹當(dāng)前主要的納米力學(xué)測(cè)試方法，以及AFAM的發(fā)展歷史和研究現(xiàn)狀。第二章首先對(duì)接觸力學(xué)的基本理論進(jìn)行介紹，隨后介紹納米壓痕技術(shù)的測(cè)試原理和應(yīng)用。第三章詳細(xì)介紹原子力顯微鏡的基本原理和應(yīng)用模式。第四章詳細(xì)介紹AFAM的基本理論，定量化原理及兩種基本成像模式。第五章給出了AFAM在測(cè)試和成像過程中涉及到的準(zhǔn)確度和靈敏度問題，是對(duì)AFAM的深入研究。第六章介紹基于AFAM的材料粘彈性力學(xué)性能測(cè)試方法的原理及應(yīng)用。第七章介紹AFAM在納米科學(xué)技術(shù)各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用，主要涉及復(fù)合材料、智能材料和生物材料的微結(jié)構(gòu)和微區(qū)彈性性質(zhì)。第八章將介紹目前正在興起的另一種納米測(cè)試技術(shù)-多頻原子力顯微成像技術(shù)。